當(dāng)前位置:鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司>>光譜儀>>火花直讀光譜儀>> Spark 8000鋼研納克全譜火花直讀光譜儀
· 鋼研納克直讀光譜儀,制造業(yè)“單項(xiàng)冠-軍”產(chǎn)品
· 長期致力于光譜分析技術(shù)及儀器制造技術(shù),成為中國直讀光譜儀的領(lǐng)-跑-者
· GB/T 4336-2016碳素鋼和中低合金鋼_多元素含量的測定_火花放電原子發(fā)射光譜法(常規(guī)法)國家標(biāo)準(zhǔn)起草者。
· 可對 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn 等金屬及其合金進(jìn)行快速精確的分析,完-全-滿-足爐前快速定量分析及實(shí)驗(yàn)室檢測要求。
· Spark 8000型全譜火花直讀光譜儀以其卓-越的性能和廣泛的應(yīng)用范圍,成為冶金、鑄造、機(jī)械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè)不-可-或-缺的分析工具。在汽車制造、航空航天、船舶、機(jī)電設(shè)備、工程機(jī)械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應(yīng)用。
儀器參數(shù)
· 儀器參數(shù)
電源要求:220V±10%,單相,10A,2.5KVA
外形尺寸:500mm×825mm×451mm(寬 * 深 * 高) 重 量:100kg
· 檢測器靈敏度行業(yè)先進(jìn)
高靈敏度 CMOS 檢測器,像素?cái)?shù):4096,像素尺寸: 7μm,精薄鍍膜,紫外波段檢出限更低,可做低含量線性度好,圖像滯后小,工作頻率范圍寬,可在 1~10MHz 下工作
· 萬級超凈環(huán)境下打造z-優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)
帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng),無像差,分辨率均勻 ,高發(fā)光全息光柵,光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm,線分辨率: 0.7407nm/mm ,像素分辨率 :0.005926nm ,譜線范圍:130-800nm(可分析 N、Li、 Na、K 等元素)
· 啟動便捷,成本大幅降低
潮汐式?jīng)_洗方式,冷機(jī)(關(guān)機(jī) 12 小時)啟動只需 30min,熱機(jī)啟動時間 5min,智能判斷分析間隔時間,合理補(bǔ)充氬氣,降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量,一瓶氬氣 24 小時待機(jī) 70 天
分片式曝光,痕量元素識別強(qiáng)度大幅提高,檢出限更低
一次激發(fā),分片曝光,同時采集,同時回?cái)?shù),獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時間,提升痕量元素的強(qiáng)度,降低儀器的檢出限,隨波段調(diào)節(jié)積分時間,提升儀器的穩(wěn)定性
儀器優(yōu)勢與特點(diǎn)
· 萬級超凈環(huán)境下打造的高分辨大色散光學(xué)系統(tǒng),采用高-端全息光柵,光柵焦距500mm,譜線范圍更寬,分辨率更高,可分析N、Li、Na等。
· 采 用 高 分 辨 率 線 陣 CMOS檢測器,集成性更高、讀取速度更快、功耗更低、長期穩(wěn)定性更高。
· 專-利的全數(shù)字高穩(wěn)定性激發(fā)光源,頻率最高可達(dá) 1000Hz,對不同的材質(zhì)可以匹配不同的光源條件實(shí)現(xiàn)最佳的分析結(jié)果。
· 全新的整體恒溫屏蔽技術(shù),溫度控制精度±0.1℃,加熱均勻、穩(wěn)定,隔絕環(huán)境溫度影響,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定。
· 智能的潮汐式?jīng)_洗技術(shù),冷機(jī)啟動時間縮短至30min,大大節(jié)省了等待時間,提高了整體運(yùn)營效率。智能判斷分析間隔時間,合理補(bǔ)充氬氣,降低氬氣消耗,大大降低運(yùn)行成本。
· 一體化的透鏡隔離閥,自動隔斷激發(fā)臺與光學(xué)系統(tǒng)氣氛,以防止因日常維護(hù)導(dǎo)致的光室污染造成強(qiáng)度下降,且可以避免誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染。
· 同軸自旋式氣路激發(fā)臺,具有自旋氣路,激發(fā)充分,激發(fā)千次無需清理,大幅度減輕工作量。
· 創(chuàng)新的曲線智能跳轉(zhuǎn)技術(shù),拓寬同一分析程序下分析元素范圍。根據(jù)樣品的分析值在后臺智能選擇最佳分析譜線,提高分析元素準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
· 功能強(qiáng)大的軟件系統(tǒng),界面設(shè)計(jì)簡潔直觀,易于操作,為用戶帶來便捷、流暢的操作體驗(yàn)。